IOTE2022經過幾次艱難的delay之后，終于于11月15日-17日在深圳國際會展中心17號館成功舉辦。我司深圳市唐領科技有限公司作為深圳物聯網產業協會作為協會創始會員當然也不會錯過此次盛會，唐領一如既往的展出了CISC傳統的RAIN RFID測試儀、NFC測試儀及RAIN RFID Inline設備，也推出了用于快速檢測讀寫設備的CISC新品Reader checker以最低的成本讓讀寫器制造商了解其產品靈敏度，讓系統集成商迅速找出問題所在。 

本次展會還有一大特點就是國產RFID標簽和讀寫器芯片廠商的新產品層出不窮，大大加快了RFID領域芯片國產化的步伐。跟隨著這個步伐，唐領攜CISC的產品也為RFID芯片設計廠商提供了有效而完整的芯片測試方案RAIN RFID Xplorer。 

標簽芯片測試方案

CISC的RAIN RFID Xplorer在芯片測試這塊涵蓋了靈敏度和協議層的測試。靈敏度測試可根據需求進行接觸（無天線）及非接觸（帶天線）的測量方法，讓芯片設計廠商更了解自己的產品在不同條件下的特性。RAIN RFID Xplorer獨具特色的參數設置是更多芯片廠商真正所需要的，如調制、時序、指令等的設置，這些設置都是在驗證芯片在不同條件下的性能特點，可以進一步完善芯片的設計，同時自定義指令及序列有助于調試特殊的協議規范標簽芯片性能。 

對于協議層面的符合規范測試，RAIN RFID Xplorer提供了兩個選擇，一個作為單點調試的Conformance軟件，他可以分析每個標簽指令或相應的內容、時序、功率、BLF及占空比等物理特性。

另一個是自動化G2V2規范測試軟件涵蓋了G2V2里規定的所有測試項目，生成測試報告，能迅速的讓標簽芯片廠商評估其產品與G2V2的符合度，如有不符合的項目可用conformance測試軟件進行深入調試和研究。

對于標簽芯片的性能及規范測試，RAIN RFID Xplorer可以稱得上是業內最完整最緊湊的測試方案。

讀寫器芯片測試方案

同樣是RAIN RFID Xplorer還可以進行讀寫器芯片的靈敏度及規范驗證。作為讀寫器芯片靈敏度的穩定性是非常的重要，Xplorer可以用接觸式的標簽仿真模塊來檢測來自讀寫器芯片評估板的信號，同時通過Tx、BLF的變化觀測靈敏度的變化，并可模擬天線的相位和阻抗變化來了解芯片靈敏度的匹配度。標簽仿真模塊還可以設置不同的配置，如接收Tari、RTcal，響應T1、BLF offset等，更大程度模擬不同的標簽特點。

當然讀寫器芯片當然也少不了協議符合度的測試，同樣遵循G2V2的需要RAIN RFID Xplorer設計了一個自動化的讀寫器協議符合度測試軟件，自動對Link時序、RF包絡和物理性能進行測試比對。獲取pass、failed的信息后，可通過Sniffer分析軟件對讀寫器協議及規范進行詳細的參數分析，從而改善相關的設計問題。

無論RFID標簽還是讀寫器其核心均在芯片，CISC在支持Impinj、NXP、ST等國際芯片大廠的芯片設計驗證的同時，也希望為中國國產芯片的崛起添磚加瓦，讓國產RFID芯片在測試和驗證之路上走的更加順暢。當然CISC近年產品也是推陳出新，緊跟潮流推出NFC無線充電方案、現場RFID分析工具等創新產品，讓IOT領域應用眼前一亮。